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分离式THz时域光谱仪

Products / 光学分析 /光谱仪 /THz时域光谱仪 /分离式THz时域光谱仪 /
分离式THz时域光谱仪
产品概述 规格参数 销售指南 联系下单！

SIMTRUM提供的分离式太赫兹时域光谱仪有多种测量模式可供选择，定制化程度高，用户可根据需求配置相应扫描模块和探头模块，其中分离式太赫兹时域光谱仪外置显示屏，紧凑型太赫兹时域光谱仪为内嵌式显示屏。可搭配高速延迟线及正入射反射探头实现无损检测。

 

 

特征

  • 宽光谱范围
  • 高分辨率
  • 高检测速度
  • 创新ATR模式
  • 结构紧凑
  • 水汽干扰小
  • 可定制
  • 支持AI软件二次开发
  
 
ATR模式
  
衰减全反射（ATR，attenuated total reflection）技术，是借助于硅棱镜使太赫兹波在硅棱镜表面发生全反射，并在该全反射点，倏逝波与样品相互作用，使得入射的太赫兹波发生衰减，通过检测反射的太赫兹波，可以获得样品在太赫兹范围内的光学参数（吸收系数、折射率和复介电常数）。
应用
同分异构体的鉴别
 
不同晶型的鉴别及理论仿真
 
水油性涂料的鉴别
 
无损检测

 


 

产品规格

样品类型 固体、粉末、液体等介电材料/非金属材料
主要功能 测量模式 透射、正入射反射、角度反射、衰减全反射（ATR）多种测量模式，搭配扫描平台，
可实现成谱、成像功能，图谱一体显示功能
谱线类型 时域谱、频域谱、吸收谱、折射率谱、介电常数谱
成像模式 时域成像、频域成像、吸收成像、最大/最小飞行时间成像、最大峰/最小峰成像、峰峰值成像
光谱/图像处理算法 提供三位层析成像算法包，可定制分类、目标检测、定量分析算法包
性能指标 频谱范围 0.1-5 THz
频谱分辨率 优于5 GHz（实测水汽吸收谱分辨率）
扫描范围 ≥500 ps
动态范围 优于90 dB
检测速度 ≥24 Hz@67 ps、≥18 Hz@134 ps、≥10 Hz@330 ps
控制系统 AI图谱分析边缘计算机，Ubuntu系统，Python SDK
配件 机械臂、三位扫描台、探头模块等可选配
使用环境 温度范围：10~30℃；相对湿度：≤80%
 
尺寸

 


销售指南

项目 详情 单位 说明
1.应用是什么？      
2.是否需要配置fs激光器？     fs激光器是THz-TDS的标准配置，激光脉冲越短，
系统的时间的时间分辨率越高
3.激光器的重复频率？     激光频率范围通常为几万Hz到几十万Hz,重复频率越高，
数据采集速度越快，但是会引入噪声
4.需要的频率范围？ 0.1-5 THz  
5.需要的频谱分辨率？ 5 GHz  
6.对检测速度的要求？     ≥24 Hz@67 ps、≥18 Hz@134 ps、≥10 Hz@330 ps
7.需要的测量模式？     可提供透射、反射、衰减全反射三种测量模式
8.根据测量模式配备相应的测量探头     透射、反射、衰减全反射测量探头可选
9.反射探头的反射角度要求？     可提供15°/20°/45°三种反射角的探头
10.是否需要配置扫描模块？      

 

工作原理

THz-TDS的工作原理可以分为两个主要部分：激发（产生THz脉冲）和探测（测量THz脉冲）。整个过程基于超快激光脉冲技术，通常涉及到以下几个步骤：

 

1. 激发（生成THz脉冲）

激光源：THz-TDS系统使用超快激光脉冲（通常是飞秒激光脉冲）作为激发源。

光电效应：当激光脉冲照射到（如锗（Ge）、锗磷化物（GaAs）或砷化镓（InGaAs））等半导体材料上时，会激发光电效应。即激光脉冲使得半导体材料中的电子被激发，从而产生一个短暂的电流脉冲（即THz辐射）。

产生THz波：这个电流脉冲会通过材料内部的加速产生THz波（THz辐射）。由于激光脉冲的宽频谱特性，这些THz波通常包含了从低频到高频的宽带信息，因此能够为后续的光谱分析提供全面的频率信息。

 

2. 探测（测量THz脉冲）

探测器：THz-TDS利用光电探测器（通常也是基于GaAs、InGaAs等材料的光电二极管）来探测由THz辐射引起的电信号。探测器在接收到THz脉冲时，能够产生相应的电信号。

电场采样：探测器通常在接收到THz脉冲时，测量其电场的变化。为了获取完整的THz时域波形，系统通过精确控制探测脉冲与激发脉冲之间的时间延迟，捕捉到THz波的振幅和相位信息，从而实现对THz波的完整时域测量。

 

3. 数据处理

傅里叶变换：通过获取THz波在时域中的完整波形，THz-TDS系统使用傅里叶变换（Fourier Transform）将时域信号转换为频域信号。这时，得到的光谱包含了THz波的频率成分，能够提供材料或物质在该频段的详细光谱特性。

分析与解读：从频域光谱中可以提取出材料的吸收特性、折射率、光学常数等信息。因此，THz-TDS可以用来研究材料的电磁特性（例如，介电常数、光学传输特性等）。


 

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(USD)
LA-HT01-TDS-SEP
频谱范围：0.1-5 THz; 频谱分辨率：优于5 GHz; 扫描范围：≥500 ps; 动态范围：优于90 dB; 检测速度：≥24 Hz@67 ps/≥18 Hz@134 ps/≥10 Hz@330 ps 		4-6周 $76082.17

短行程三维扫描位移台TA-SS1 - Parameter

长行程三维扫描位移台TA-SL1 - Parameter

柱体扫描旋转位移台TA-SR1 - Parameter

机械臂万向采样模块TA-SMA1 - Parameter

THz多功能测量探头TA-CRA - Parameter

THz转盘式测量探头TA-CP-23-180 - Parameter

THz集成式测量探头TA-JC-100 - Parameter

THz小角度入射反射测量探头TA-RP15 - Parameter

THz透射测量探头TA-TP180 - Parameter

LA-HT01-TDS-SEP - Parameter

短行程三维扫描位移台TA-SS1 - Download

长行程三维扫描位移台TA-SL1 - Download

柱体扫描旋转位移台TA-SR1 - Download

机械臂万向采样模块TA-SMA1 - Download

THz多功能测量探头TA-CRA - Download

THz转盘式测量探头TA-CP-23-180 - Download

THz集成式测量探头TA-JC-100 - Download

THz小角度入射反射测量探头TA-RP15 - Download

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Accessories

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(USD)
THz透射测量探头TA-TP180
测量模式：透射光谱、透射成像 		4-6周 $3603.89
THz小角度入射反射测量探头TA-RP15
测量模式：反射光谱、反射成像; 反射角度：入射光束与样品法线夹角7.5°; 焦距：101.6mm 		4-6周 $3003.24
THz集成式测量探头TA-JC-100
测量模式：角度测量，可测光谱、成像; 焦距：50.8/101.6 mm 		4-6周 $6006.49
THz转盘式测量探头TA-CP-23-180
测量模式：角度测量，可测光谱、成像; 测量角度：23°-180° 		4-6周 $7207.78
THz多功能测量探头TA-CRA
测量模式：角度测量，可测光谱、成像; 焦距：50.8/101.6mm 		4-6周 $10010.81
机械臂万向采样模块TA-SMA1
机械臂有效负载：15KG 工作半径：900mm 重复定位精度：0.05mm 		4-6周 $3003.24
柱体扫描旋转位移台TA-SR1
0-360°不间断旋转 样品台最大承重：20KG 		4-6周 $5606.05
长行程三维扫描位移台TA-SL1
X、Y轴位移台用于样品扫描，Z轴位移台用于探头调焦 		4-6周 $8008.65
短行程三维扫描位移台TA-SS1
成像范围：≥100 mm*100 mm; 扫描步长：10 μm; 重复定位精度：≤5 μm; 样品台高度调节范围：≥10 mm; 工作模式：运动至指定位置、连动、点动 		4-6周 $5606.05

Sales Enquiry：13326430008       Email：info@simtrum.com      

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