LA-HT01-TDS-SEP--瑆创科技-专注于显微与光谱

短行程三维扫描位移台TA-SS1
成像范围：≥100 mm*100 mm; 扫描步长：10 μm; 重复定位精度：≤5 μm; 样品台高度调节范围：≥10 mm; 工作模式：运动至指定位置、连动、点动

4-6周

$5606.05

长行程三维扫描位移台TA-SL1
X、Y轴位移台用于样品扫描，Z轴位移台用于探头调焦

4-6周

$8008.65

柱体扫描旋转位移台TA-SR1
0-360°不间断旋转样品台最大承重：20KG

4-6周

$5606.05

机械臂万向采样模块TA-SMA1
机械臂有效负载：15KG 工作半径：900mm 重复定位精度：0.05mm

4-6周

$3003.24

THz多功能测量探头TA-CRA
测量模式：角度测量，可测光谱、成像; 焦距：50.8/101.6mm

4-6周

$10010.81

THz转盘式测量探头TA-CP-23-180
测量模式：角度测量，可测光谱、成像; 测量角度：23°-180°

4-6周

$7207.78

THz集成式测量探头TA-JC-100
测量模式：角度测量，可测光谱、成像; 焦距：50.8/101.6 mm

4-6周

$6006.49

THz小角度入射反射测量探头TA-RP15
测量模式：反射光谱、反射成像; 反射角度：入射光束与样品法线夹角7.5°; 焦距：101.6mm

4-6周

$3003.24

THz透射测量探头TA-TP180
测量模式：透射光谱、透射成像

4-6周

$3603.89

样品类型	固体、粉末、液体等介电材料/非金属材料
主要功能	测量模式	透射、正入射反射、角度反射、衰减全反射（ATR）多种测量模式，搭配扫描平台，可实现成谱、成像功能，图谱一体显示功能
	谱线类型	时域谱、频域谱、吸收谱、折射率谱、介电常数谱
	成像模式	时域成像、频域成像、吸收成像、最大/最小飞行时间成像、最大峰/最小峰成像、峰峰值成像
	光谱/图像处理算法	提供三位层析成像算法包，可定制分类、目标检测、定量分析算法包
性能指标	频谱范围	0.1-5 THz
	频谱分辨率	优于5 GHz（实测水汽吸收谱分辨率）
	扫描范围	≥500 ps
	动态范围	优于90 dB
	检测速度	≥24 Hz@67 ps、≥18 Hz@134 ps、≥10 Hz@330 ps
控制系统	AI图谱分析边缘计算机，Ubuntu系统，Python SDK
配件	机械臂、三位扫描台、探头模块等可选配
使用环境	温度范围：10~30℃；相对湿度：≤80%

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LA-HT01-TDS-SEP

频谱范围：0.1-5 THz; 频谱分辨率：优于5 GHz; 扫描范围：≥500 ps; 动态范围：优于90 dB; 检测速度：≥24 Hz@67 ps/≥18 Hz@134 ps/≥10 Hz@330 ps

MODEL:LA-HT01-TDS-SEP

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柱体扫描旋转位移台TA-SR1 - Parameter

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THz转盘式测量探头TA-CP-23-180 - Parameter

THz集成式测量探头TA-JC-100 - Parameter

THz小角度入射反射测量探头TA-RP15 - Parameter

THz透射测量探头TA-TP180 - Parameter

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