THz小角度入射反射测量探头TA-RP15--瑆创科技-专注于显微与光谱

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Products / 光学分析 /光谱仪 /THz时域光谱仪 /THz三维层析成像检测仪 / THz小角度入射反射测量探头TA-RP15 /

测量模式：反射光谱、反射成像; 反射角度：入射光束与样品法线夹角7.5°; 焦距：101.6mm

MODEL:THz小角度入射反射测量探头TA-RP15

$2002.16 4-6周 Drawings

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* The prices are indicative only. Please contact us for an official quote. This is single product page, for detail specification please refer to product main page

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Compare	Model		Drawings & Specs	Availability	Reference Price
		LA-HT01-SCA-3D 扫描范围：≥500 ps; 动态范围：优于90 dB; 检测速度：≥24 Hz@67 ps/≥18 Hz@134 ps/≥10 Hz@330 ps; 成像范围：最大500*500 mm^2; 成像分辨率：±30 μm（深度方向）；1mm（表面）; 扫描步长：50 μm; 重复定位精度：≤20 μm; 样品台调节范围：高度调节范围：≥10 mm;水平度可调		4-6周	$74613.92

Compatible

Compare	Model		Drawings & Specs	Availability	Reference Price
		THz垂直入射探头TA-RP90 测量模式：反射光谱、反射成像		4-6周	$5005.41

产品规格

样品类型	介电材料/非金属材料
主要功能	测量模式	正入射反射、角度反射测量模式，搭配扫描平台，可实现成谱、成像功能，图谱一体显示功能
	成像模式	时域成像、频域成像、吸收成像、最大/最小飞行时间成像、最大峰/最小峰成像、峰峰值成像
	图像处理算法	提供三位层析成像算法包，可定制分类、目标检测算法包
性能指标	扫描范围	≥500 ps
	动态范围	优于90 dB
	检测速度	≥24 Hz@67 ps、≥18 Hz@134 ps、≥10 Hz@330 ps
	成像范围	最大500mm*500mm
	成像分辨率	±30μm（深度方向）；1mm（表面）
	扫描步长	50μm
	重复定位精度	≤20μm
	样品台调节范围	可自动进行高度调节，调节范围≥10 mm；样品台水平度可调节
控制系统	AI图谱分析边缘计算机，Ubuntu系统，Python SDK
附件	探头模块
使用环境	温度范围：10~30℃；相对湿度：≤80%

THz小角度入射反射测量探头TA-RP15 - Parameter

THz垂直入射探头TA-RP90 - Parameter

LA-HT01-SCA-3D - Parameter

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