THz衰减全反射光路快插模块TA-ATRSG40--瑆创科技-专注于显微与光谱

Sign In

Show Password Forgot your password?

Sign In
Need a new account?
Register

Register

Forgot your password?
Register
Register your account immediately
Sign In

Retrieve password

Get verification code
submission
Sign In

简体中文

简体中文 English

Products / 光学分析 /光谱仪 /THz时域光谱仪 /集成式THz时域光谱仪 / THz衰减全反射光路快插模块TA-ATRSG40 /

测量模式：衰减全反射光谱; 晶体材质：高阻硅; 晶体结构尺寸：标准尺寸：梯形结构，底角60°，表面长度36mm，表面宽度15mm。尺寸可定制晶体固定方式：磁吸固定，圆柱销定位，晶体可拆卸清洗; 可测样品范围：可测样品折射率最大为3.18（太赫兹波段）

MODEL:THz衰减全反射光路快插模块TA-ATRSG40

$4404.76 4-6周 Drawings

Save To My List

* The prices are indicative only. Please contact us for an official quote. This is single product page, for detail specification please refer to product main page

Related Products Detailed Introduction

Compare	Model		Drawings & Specs	Availability	Reference Price
		LA-HT01-TDS-INT 频谱范围：0.1-5 THz; 频谱分辨率：优于5 GHz; 扫描范围：≥500 ps; 动态范围：优于90 dB; 检测速度：≥24 Hz@67 ps/≥18 Hz@134 ps/≥10 Hz@330 ps; 聚焦光斑直径：≤1 mm（信号衰减为50%时）		4~6 weeks	$65937.88

Compatible

Compare	Model		Drawings & Specs	Availability	Reference Price
		THz反射光路快插模块TA-RPSG40 测量模式：反射光谱、反射成像; 成像范围：≥20 mm*20 mm		4-6周	$3603.89
		THz透射光路快插模块TA-TPSG40 测量模式：透射光谱、透射成像; 成像范围：≥20*20 mm		4-6周	$4004.32

产品规格

样品类型	固体、粉末、液体等介电材料/非金属材料
主要功能	测量模式	透射、反射、衰减全反射（ATR）三种测量模式，具备成谱、成像功能，图谱一体显示功能
	谱线类型	时域谱、频域谱、吸收谱、折射率谱、介电常数谱
	成像模式	时域成像、频域成像、吸收成像、最大/最小飞行时间成像、最大峰/最小峰成像、峰峰值成像
	光谱/图像处理算法	提供三位层析成像算法包，可定制分类、目标检测、定量分析算法包
性能指标	频谱范围	0.1-5 THz
	频谱分辨率	优于5 GHz（实测水汽吸收谱分辨率）
	扫描范围	≥500 ps
	动态范围	优于90 dB
	检测速度	≥24 Hz@67 ps、≥18 Hz@134 ps、≥10 Hz@330 ps
	聚焦光斑直径	≤1 mm（信号衰减为50%时）
附件	除湿模块、探头模块
控制系统	AI图谱分析边缘计算机，Ubuntu系统，Python SDK
使用环境	温度范围：10~30℃；相对湿度：≤80%

THz衰减全反射光路快插模块TA-ATRSG40 - Parameter

THz反射光路快插模块TA-RPSG40 - Parameter

THz透射光路快插模块TA-TPSG40 - Parameter

LA-HT01-TDS-INT - Parameter

THz衰减全反射光路快插模块TA-ATRSG40 - Download

THz反射光路快插模块TA-RPSG40 - Download

THz透射光路快插模块TA-TPSG40 - Download

LA-HT01-TDS-INT - Download